Portraits de l'exil : Paris-New York : dans le sillage d'Hannah Arendt
Arcadia
A l'occasion d'une exposition au Musée du Montparnasse, cet ouvrage réunit des portraits provenant des archives de la famille Stein, réalisés à Paris ou à New York, où le photographe trouva refuge en 1941. Dédiée au thème de l'exil, cette sélection représente une centaine d'intellectuels ayant vécu un double exil entre 1933 et 1942 : ils ont fui d'abord l'Allemagne nazie, puis l'Europe en guerre. ©Electre 2026
